談談高分辨X射線顯微鏡LabDCT光路設計及工作原理
瀏覽次數│•:231釋出日期│•:2022-12-22
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種✘·•▩,也是顯微成像技術✘·•▩,即將微觀的₪▩✘、肉眼無法分辨看出的結構₪▩✘、圖形放大成像以便觀察研究的器械▩·▩╃☁。X 射線成像的襯度原理₪▩✘、裝置的構造與主要組成部件( 如X射線源₪▩✘、探測器等)✘·•▩,但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像₪▩✘、機械製品的缺陷探傷₪▩✘、機場車站的安全檢查等) 出發的▩·▩╃☁。宏觀成像與微觀成像有相通之處✘·•▩,如襯度原理₪▩✘、裝置的主要組成部件等✘·•▩,但也有區別▩·▩╃☁。
高分辨X射線顯微鏡平臺的DCT採用獨特的光路設計✘·•▩,為提高衍射訊號的採集增益✘·•▩,X射線的光路上增加了光闌(Aperture)和擋光板(Beamstop)兩個勞厄光學元件▩·▩╃☁。友碩小編介紹光闌設定在光源和樣品之間✘·•▩,用以控制入射X射線範圍✘·•▩,保證合適數量的晶粒同時被照亮▩·▩╃☁。擋光板元件設置於樣品與探測器之間✘·•▩,用以阻隔透射的X射線✘·•▩,提高衍射訊號的信噪比▩·▩╃☁。
Lab-based DCT技術光路設計及工作原理│•:
這種光路設計適用於基於Xradia Versa平臺的LabDCT Pro系統和基於平板架構的CrystalCT系統▩·▩╃☁。對於LabDCT系統✘·•▩,由於探測器解析度和靈敏度較高✘·•▩,擋光板和探測器可設定在勞厄聚焦位置✘·•▩,即光源到樣品的距離(LSS)等於樣品到探測器的距離(LSD)✘·•▩,對於CrystalCT系統✘·•▩,由於平板探測器畫素較大✘·•▩,衍射襯度成像同樣需要使用幾何放大來提高衍射斑的畫素數目和解析度✘·•▩,即光源到樣品的距離(LSS)要小於樣品到探測器的距離(LSD)▩·▩╃☁。基於這樣的架構✘·•▩,在每個旋轉位置✘·•▩,符合布拉格衍射條件的晶粒將入射的X射線在探測器上被記錄衍射訊號▩·▩╃☁。每個Lab-based DCT實驗需要採集一組吸收襯度資料和一組衍射襯度資料✘·•▩,然後在軟體內進行重構▩·▩╃☁。