高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的

　　高分辨X射線顯微鏡是X射線成像術的一種↟◕，也是顯微成像技術↟◕，即將微觀的•·╃₪•、肉眼無法分辨看出的結構•·╃₪•、圖形放大成像以便觀察研究的器械☁◕•▩·。X 射線成像的襯度原理•·╃₪•、裝置的構造與主要組成部件( 如X射線源•·╃₪•、探測器等)↟◕，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像•·╃₪•、機械製品的缺陷探傷•·╃₪•、機場車站的安全檢查等) 出發的☁◕•▩·。宏觀成像與微觀成像有相通之處↟◕，如襯度原理•·╃₪•、裝置的主要組成部件等↟◕，但也有區別☁◕•▩·。
 

　　高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的↟◕，遵從幾何光學原理↟◕，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件↟◕，在光學顯微鏡中為透鏡☁◕•▩·。由於X 射線的波長很短↟◕，在玻璃和一般物質介面上的折射率均接近1↟◕，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡↟◕，一般用波帶片☁◕•▩·。
 

　　此外↟◕，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像↟◕，同樣要求有強光源及像探測器☁◕•▩·。對光學顯微鏡↟◕，一般用肉眼觀察↟◕，故常加一目鏡起進一步放大的作用☁◕•▩·。在高分辨X射線顯微鏡中當然不能用眼晴直接觀察↟◕，可用CCD 等面探測器探測☁◕•▩·。顯微鏡的重要效能指標兩者是相似的↟◕，有放大倍數•·╃₪•、分辨力•·╃₪•、像差等幾個☁◕•▩·。X射線顯微鏡的一般構造:從強光源來的光束先經聚焦元件( 在此為毛細管透鏡聚焦) 使光斑尺寸變小•·╃₪•、亮度加大↟◕，然後射到樣品上↟◕，透過樣品的光↟◕，再經成像放大元件( 在此為波帶片) 而到達探測器( 在此為閃爍體加CCD)☁◕•▩·。成像波帶片和探測器之間有一個Au 位相補償環↟◕，在相襯成像時用☁◕•▩·。如吸收襯度成像↟◕，可移走☁◕•▩·。