微奈米ct-高解析度X射線三維成像系統▩▩，即SKYSCAN 微奈米ct/高容量三維 X射線顯微鏡, 該探測器具有600萬畫素▩▩，視野範圍大▩▩，輸出速度快▩▩，15秒內即可提供高畫質晰度影象▩▩，是快速CT的理想之選│▩₪◕₪。即使是大尺寸樣品▩▩，也能在數分鐘內完成掃描│▩₪◕₪。

微焦點CT-半導體元器件X射線顯微成像系統是一種基於X射線的成像技術▩▩，使用微型計算機斷層掃描技術（Micro Computed Tomography）│▩₪◕₪。包括掃描和重構兩個主要部分▩▩，Micro/Nano 表明其解析度可達到微米/亞微米級別│▩₪◕₪。

工業部件缺陷高分辨三維X射線顯微成像系統 SkyScan 1275高分辨三維X射線顯微成像系統是一款非常適合於快速測定樣品的X射線三維成像系統▩▩，在不降低影象質量的情況下▩▩，可以在幾分鐘之內完成一個樣品的掃描│▩₪◕₪。圖形處理技術的革新更進一步提升了影象重建的質量和速度│▩₪◕₪。透過體繪製可以快速☁•▩、逼真地重建樣品的三維視覺化影象▩▩，*質量的三維影象揭示了樣品內部的微觀結構

高解析度X射線顯微CT——材料應用▩▩，是一種非破壞性的3D成像技術▩▩，可以在不破壞樣本的情況下清楚瞭解樣本的內部顯微結構│▩₪◕₪。它與普通臨床的CT大的差別在於解析度*▩▩，可以達到微米（μm）級別▩▩，因此具有良好的“顯微“作用│▩₪◕₪。小動物CT可用於醫學☁•▩、藥學☁•▩、生物☁•▩、考古☁•▩、材料☁•▩、電子☁•▩、地質學等領域的研究│▩₪◕₪。

近些年▩▩，高解析度X射線三維顯微鏡——植物成像系統開始廣泛應用於土壤學和植物科學▩▩，研究土壤性質☁•▩、土壤微生物對土壤性質的影響▩▩，植物根發育及四維結構▩▩，布魯克Bruker臺式x射線三維顯微鏡越來越多地用於植物地上結構的研究│▩₪◕₪。

X射線顯微高解析度CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272 是一臺具有革新意義的高解析度三維 X 射線成像系統│▩₪◕₪。單次掃描可獲得多達2000 張▩▩，每張大小為 209M（14450 x 14450 畫素）的超清無損切片▩▩，用於之後高分辨三維重建│▩₪◕₪。透過先進的相襯增強技術▩▩，SkyScan1272 對樣品的細節檢測能力（解析度）高達 350 奈米│▩₪◕₪。

X射線三維高精度CT掃描系統（高解析度CT）——SKYSCAN 1273真正注重空間可用性▩▩，臺式樣品腔可容納高達500 mm☁•▩、直徑達300 mm的超大樣品▩▩，在過去▩▩，這通常需要使用落地式系統才能實現│▩₪◕₪。它還配備了精巧的樣品座▩▩，能夠實現任何尺寸的樣品的精準定位│▩₪◕₪。

X射線三維顯微鏡（高解析度CT）▩▩，利用x射線*的穿透能力▩▩，可以在不破壞樣品的情況下▩▩，獲得高精度三維影象▩▩，顯示樣品內部詳盡的三維資訊▩▩，並進行結構☁•▩、密度的定量分析│▩₪◕₪。該技術可謂當前三維成像技術中非常有效☁•▩、非常可靠的手段▩▩，透過高解析度x射線三維成像系統▩▩，還可以獲得樣品微觀結構的數字化模型▩▩，可用於後續相關的數值模擬等研究工作│▩₪◕₪。

SkyScan 2214多量程x射線奈米ct系統（高解析度CT）▩▩，X射線源電壓高達160kV│▩₪◕₪。多可提供四個探測器▩▩，CMOS探測器用於高能量快速掃描▩▩，3個CCD探測器用於各種情形下的高解析度掃描│▩₪◕₪。