發射掃描電鏡SEM相關檢測
專案 | 細則 | 收費 | 說明 |
僅形貌觀察 | 每個樣品*20min✘▩☁，超出時間將按照每20min一個樣計算；樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅元素分析測試 | EDS元素分析/分佈包括↟╃₪：點分析（限3點）；線分析；面分析 | / | / |
形貌觀察和元素分析 | SEM每個樣品限取5張照片； EDS元素分析/分佈包括； 點分析（限3點）； 線分析；面分析； | / | / |
EBSD | / | / | 制樣收費面議 |
STEM | / | / | / |
冷臺◕₪╃、熱臺◕₪╃、WetSTEM原位觀察 | 需要設計試驗方案✘▩☁，價格面議│·。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為Pt 5nm | / | / |
發射掃描電鏡SEM相關檢測
蔡司場發射掃描電子顯微鏡Sigma系列✘▩☁，採用蔡司Gemini鏡筒✘▩☁，具有高品質的成像和優質的分析能力✘▩☁，可選配備多種探測器✘▩☁，以滿足顆粒物◕₪╃、奈米結構◕₪╃、薄膜樣品等各種不同的應用需求│·。EDS幾何設計可實現高效能的元素分析✘▩☁，無論哪種樣品適用範圍廣✘▩☁，且均可獲得準確且可重複的分析結果│·。
[ 產品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的影象2. 智慧高效的工作流程3. 高效能的分析系統4. 可擴充套件拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設計-提升光學效能的同時✘▩☁，降低靜電場與磁場對樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用於研究大件✘▩☁，較重✘▩☁，較高的樣品│·。
▲樣品直徑達300mm│·。▲可觀察範圍直徑達203mm│·。▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析│·。▲通用型接口布局滿足各種分析用途│·。
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